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        電腦型熔點測定儀 XPH-200E

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        憑借嚴謹的生產、優良的銷售和服務,贏得了客戶們的廣泛認。誠信經營為戰略,給予國內、國外用戶提供儀器解決方案。
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        電腦型熔點測定儀 XPH-200E

        XPH-200系列偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的實驗儀器。偏光顯微鏡在衛生部門上有廣泛的用途,如觀察齒、骨、頭發及活細胞等的結晶內含物,神經纖維、動物肌肉、植物纖維等的結構細節,分析病變過程,偏光顯微鏡也可以觀察無機化學中各種鹽類的結晶狀況。偏光熱臺系統可供廣大用戶通過偏光來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。
        產品編號
        產品描述
        參數

        一、用途
          XPH-200系列偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的實驗儀器。偏光顯微鏡在衛生部門上有廣泛的用途,如觀察齒、骨、頭發及活細胞等的結晶內含物,神經纖維、動物肌肉、植物纖維等的結構細節,分析病變過程,偏光顯微鏡也可以觀察無機化學中各種鹽類的結晶狀況。偏光熱臺系統可供廣大用戶通過偏光來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。
        二、技術參數:
        1.目鏡:

        類別 放大倍數 視場(mm)
        目鏡 6X φ22
        10X φ18
        15X φ11

        2.物鏡:

        類別 放大倍數 數值孔徑(NA) 工作距離(mm )
        物鏡 5X 0.10 17.5
        10X 0.25 6.6
        40X 0.65 0.64

        3.放大倍數:30X-600X
        4.系統放大倍數:30X-2000X
        5.偏光系統:可旋轉式起偏振片和觀察頭內置檢偏振片
        6.聚光鏡數值孔徑:NA=1.25
        7.載物臺:360°旋轉式載物臺尺寸:Ф120mm
        8.調焦系統:帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動,微動格值為 0.002mm
        9.眼瞳調節范圍:53mm-75mm
        10.照明光源:6V/20W 鹵素燈,亮度可調
        11.防霉:特有的防霉系統

        三、系統簡介
          偏光顯微鏡系統是光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品??梢栽陲@示屏上很方便地觀察實時動態圖像,并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
        四、偏光熱臺
          透射偏光顯微熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油等部門和相關高校的高分子……等專業常用的專業實驗儀器??晒V大用戶通過偏光來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化,該儀器具有自動控制溫度及無級調節熱臺升溫速度的功能,通過LED顯示溫度測量值。儀表顯示準確、清晰、穩定性好;控溫范圍寬,可靠性好,抗震性強。
        主要技術參數:
        平  臺     Ф120mm 360°旋轉
        測溫范圍     室溫-300℃
        測量精度     ±1℃
        測 試 量     ≯0.1mg
        顯示方式     四位LED數碼管
        傳感器分度號 PT-100
        電    源     AC220V 50Hz
        使用環境     溫度0-40℃濕度 < 85%
        五、系統組成
        電腦型偏光熔點測定儀(XPH-200E):1、偏光顯微鏡 2、熱臺3、適配鏡 4、攝像器(CCD) 5、A/D(圖像采集) 6、驅動軟件 7、數據線 8、計算機(選配)
        數碼型偏光熔點測定儀(XPH-200D):1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數碼相機光學轉接口 4、數碼相機 
        六、選購件
         1、目鏡:16X    2、高像素成像系統      3.偏光顯微鏡分析軟件

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